Outils Qualite

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Les outils de la qualité OBJECTIFS OBJECTIFS Compétences attendues …. Savoirs technologiques associés PLAN DE L’ETUDE 1 LES OUTILS DE LA QUALITE 2 2 ROUE DE DEMING 2 2.1 LA FEUILLE DE RELEVES 3 2.2 DIAGRAMME ISHIKAWA OU DIAGRAMME CAUSES-EFFET 4 2.3 LA LOI DE PARETO ( LOI DES 80/20 OU DIAGRAMME ABC 5 2.4 LE QQOQCP 6 2.5 L’HISTOGRAMME 6 2.6 LE SPC 7 OutilQualité Rodriguuez/Wechtler 06/02/06

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Les outils de la qualité OBJECTIFS

OBJECTIFS …

Compétences attendues ….

Savoirs technologiques associés

PLAN DE L’ETUDE

1 LES OUTILS DE LA QUALITE 2

2 ROUE DE DEMING 2

2.1 LA FEUILLE DE RELEVES 3 2.2 DIAGRAMME ISHIKAWA OU DIAGRAMME CAUSES-EFFET 4 2.3 LA LOI DE PARETO ( LOI DES 80/20 OU DIAGRAMME ABC 5 2.4 LE QQOQCP 6 2.5 L’HISTOGRAMME 6 2.6 LE SPC 7

OutilQualité Rodriguuez/Wechtler 06/02/06

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1 Les outils de la qualité L’entreprise prend un engagement vis-à-vis de son client sur le produit ou le service qu’elle fournit en

ce qui concerne : * La conformité aux spécifications ; * L’APTITUDE à satisfaire le BESOIN du client. Afin de répondre à ces attentes, elle met en place un ensemble de procédures permettant de réaliser la

qualité de ses produits. On parle alors de GESTION DE QUALITE. Celle-ci utilise différents moyens pour y parvenir. Ce sont les OUTILS DE LA QUALITE.

Afin d’améliorer la qualité, on peut agir de 2 façons.

La première est d’agir en amont. On cherche à comprendre les causes des dysfonctionnements afin d’y remédier.

La seconde consiste à surveiller le processus de fabrication, et d’intervenir lorsqu'un dysfonctionnement se produit ( déréglage, bris d’outil, etc..). Les outils de la qualité vont donc être de 2 ordres :

* Les outils d’analyse : • le diagramme cause - effet • le diagramme Pareto. • Histogramme ; • Diagramme Cause-Effet ; • Etc..

* Les outils de suivi de production : • Les plans de contrôles ; • La méthode SPC ; • Etc…

Méthode AMDECMéthode Tagushi

BrainstormingFeuilles de relevésHistogrammeLoi de ParetoDiagramme Cause-EffetMéthode AMDEC

Feuilles de relevésHistogramme

Méthode TagushiMéthode SPC

Méthode TagushiMéthode QFDMéthode SMEDPoka-Yoke

Réagir: Prévoir:

Quantifier: Agir:

Le processus d’amélioration agira donc dans un 1er temps d’identifier les causes de non-qualité puis de chercher à les réduire.

2 Roue de Deming Pour déployer la politique qualité, on peut utiliser une démarche d’amélioration continue proposée par le docteur DEMING. Cette démarche matérialisée par une roue roulant sur un sol montant. Afin de d’élever le niveau de la gestion de la qualité, il faut « tourner la roue de Deming ».

Réagir Prévoir

Vérifier Agir

Amélioration continu

AssuranceQualité

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Dans la démarche, il faut : PREVOIR : Affectation des ressources humaines et matérielles. AGIR : processus de conception, de réalisation de gestion et de contrôle VERIFIER : Audit, mesure de satisfaction du client REAGIR : Processus de réparation, de prévention, maîtrise de la non-conformité

On cherchera à s’améliorer de façon progressive (approche Kaïsen).

2.1 La feuille de relevés Toute action doit être engagée sur des données chiffrées. La feuille de relevés permet de faciliter et de formaliser la saisie des informations sur le poste de travail. Elles sont conçues suivant les critères suivants :

• Facilité du relevé ; • Facilité de lecture ; • Facilité d’archivage.

ENTREPRISE :

N°lot :

Taille échantillon :

Date :

N°atelier :

Contrôleur :

Type défauts Nombre non conformité

Nombre de test

Défauts soudures

Autres défauts :

IIIII IIIII IIIII II

IIIII II

III

17

7

3

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2.2 Diagramme ISHIKAWA ou diagramme CAUSES-EFFET Ce diagramme permet de visualiser toutes les causes multiples à l’origine d’une seule conséquence. Il est fabriqué en plusieurs étapes : 1ère étape : On définit avec précision L’EFFET. 2ème étape : On recherche l’ensemble des causes possibles qui peuvent produire l’effet. Cette recherche est faîte par un BRAINSTORMING (remue-méninges :DEBALLAGE D’IDEES). 3ème étape : On assemble les différentes causes par familles. 4ème étape : On construit le diagramme

E F F E T

1 1

1 1

2 2

22

3

3

Les flèches 1 représentent les causes principales ; Les flèches 2 représentent le causes secondaires ; les flèches 3 représentent les causes tertiaires Exercice : 1ère étape : Quelles sont les causes d’une mauvaise mesure au calibre à coulisse ?

M a u v a iseL e c tu re

O p é ra te u r P iè c e

E n v iro n n e m e n t In s tru m e n t

b a v u re sM a u v a isele c tu re

T °P o u ss iè re B a v u re s

Retrouve-t-on la loi des M ?

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2.3 La loi de PARETO ( Loi des 80/20 OU Diagramme ABC Ce diagramme permet de déterminer les causes les plus importantes par rapport à l’ensemble des dysfonctionnements. Les statistiques mettent en évidence que 80% des effets sont dus à 20% de causes. On peut ainsi agir sur un problème en privilégiant les causes donnant le plus d’effet. Il vient en amont du diagramme ISHIKAWA pour quantifier les différentes causes.

Exercice :

Cause Valeur effet

Cause valeur effet

N° ordre

% Cumul %

A : Instrument inadapté 9 C 87 1 46.5 45.6 B : Copeaux 8 F 45 2 24.1 70.6 C: bavures 87 H 14 3 7.5 78.1 D:Précision instrument: 3 I 12 4 6.4 84.5 E: Position instrument 7 A 9 5 4.8 89.3 F : mauvaise lecture 45 B 8 6 4.3 93.6 G : température 2 E 7 7 3.7 97.3 H : 14 D 3 8 1.6 98.9 I 12 G 2 9 1.1 100

S=187

0,0010,0020,0030,0040,0050,0060,0070,0080,0090,00

100,00

1 2 3 4 5 6 7 8 90,0010,0020,0030,0040,0050,0060,0070,0080,0090,00100,00

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2.4 Le QQOQCP C’est un outil qui permet de poser les bonnes questions avant d’aborder un problème. Il permet de ne pas oublié un élément important de la solution choisie. Qui : Qui est concerné par le problème ? Quoi : Quel est le problème ? Où : En quels lieux se pose-t-il ? Quand : A quels moments apparaît-il ? Comment : Sous quelles formes se présente-il ? Pourquoi : Quelles sont les raisons qui poussent à résoudre le problème ? On peut ajouter aussi Combien pour donner une réponse chiffrée. Exemple : Un défaut de montage du à un défaut de parallélisme est remarqué sur certaines pièces d’une série réalisée en fraisage. On remarque que cela se produit à chaque changement d’outil: Questions Champ d’application Exemple Points à étudier QUOI et POURQUOI ? (COMBIEN ?)

Nature et justification du défaut

Défaut de parallélisme Positionnement de la pièce

Fréquence d’apparition Conséquence sur la production Coûts

QUI et POURQUOI ? Compétences de l’opérateur

Manque de précision dans la mise en position

Qualification Formation Moyens de production

OU et POURQUOI ? Lieu où les défauts sont constatés

Poste de fraisage Ergonomie Gestion des flux

QUAND et POURQUOI ?

Moment de la constatation des défauts

Changement d’outil Problème technique

COMMENT et POURQUOI ?

Mode opératoire de mise en oeuvre

Respect du contrat de phase. Respect des consignes

Etat de l’outil Etat du porte-pièce

2.5 L’histogramme Il permet de représenter les données sous forme graphique. Chaque barre est proportionnelle à la fréquence d’apparition d’une valeur à l’intérieur d’un intervalle (Classe).Il donne une bonne image de la distribution des valeurs et permet d’identifier un modèle mathématique applicable (loi normale, etc..) Le principe consiste à regrouper les individus ayant la même caractéristique. On étudie alors l’importance de chaque groupe (classe) par rapport à l’ensemble des individus (population). La construction d’un histogramme est régit par un certain nombre de règle. Réaliser l’histogramme

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2.6 Le SPC SPC : STASTISTICAL PROCESS CONTROL

SURVEILLANCE DES PROCEDES EN CONTINU C’est une méthode statistique qui permet de contrôler le procédé de fabrication de façon continu. On prt on contrôle un échantillon de n pièces parmi N pièces fabriquées. On reporte le résultat graphiquement sur des cartes de contrôles

2.6.1 Définitions - Population : Ensemble des individus, sur lequel on étudie un caractère donné.

- Echantillon : Prélèvement au hasard d’un ou plusieurs individus appartenant à une population. - Individus : Elément de base qui compose la population. - Caractère : Critère mesuré ou observé. Deux sortes de caractères : - qualitatif : non mesurable (couleur,...) - quantitatif : mesurable (âge,...)

Schématisation du vocabulaire :

INDIVIDU

ECHANTILLON

POPULATION

2.6.2 La loi normale - droite de Henry

C’est une distribution particulière d’une population suivant une loi mathématique.

ex

xf 2

2

21)( −=π

. On l’appelle aussi loi de

GAUSS ou Laplace-Gauss. Sa distribution est en forme de cloche. Elle est caractérisée par sa moyenne et sa dispersion autour de celle-ci.

Cette distribution est vérifiée lors de fabrications des pièces soumises à plusieurs variables aléatoires.

2.6.2.1 DEFINITIONS RELATIVES A LA LOI NORMALE (LOI DE GAUSS)

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DDDRRR LLLeeesss ooouuutttiiilllsss dddeee lllaaa qqquuuaaallliiitttééé TTTPPP

Etendue (notée W ) : L’étendue est la différence entre la plus grande des données et la plus petite.

Moyenne (notée X ) : La moyenne arithmétique d’une somme des éléments divisés par le nombre

d’éléments:

Ecart type de la fabrication (notée σ) : L’écart type caractérise la dispersion autour de la valeur moyenne.

∑ −=

=n

iXXin 1

2

)(1σ

Ecart type d’un échantillon d’effectif n (notée S ou σn-1 ) : L’écart type est la racine de la moyenne des carrées des écarts à la moyenne pour l’échantillon d’effectif n.

S = σn-1 =….. S = σn-1 =……… Des méthodes permettent de vérifier si la distribution suit une loi normale (NFX 06-

050) : • Droite de HENRY, • Méthode du KHI-DEUX (κ²)

Pour mettre en évidence la loi normale, on peut réaliser et analyser un histogramme. (Voir exemple).

Calculer de la moyenne, l’étendue, et l’écart type de l’exemple donné.

2.6.3 Contrôles par mesures La spécification contrôlée est une grandeur chiffrée par un appareil de mesure. On surveille alors 2 paramètres :

* LA TENDANCE CENTRALE de la fabrication ( Moyenne,...) * LA VARIABILITE de la fabrication ( Etendue, etc...)

Exemple : Echantillon n°1 Echantillon n°2 28.82 28.84 28.87 28.85 28.85 28.85 28.88 28.85 28.83 28.86 Moyenne 28.85 28.85 Etendue 0.06 0,02

2.6.4 Contrôles par attribut La spécification contrôlée est qualitative. On classe les échantillons par rapport à une propriété qu’ils possèdent ou non. On surveille alors 2 paramètres :

• la proportion de défectueux (pièces qui ne possèdent pas la propriété ) ;

• le nombre de défauts par unité de contrôle.

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