ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours Mécanisme dAccès aux Tests des...
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ELE6306 : Test de systèmes électroniques
Projet de cours
Mécanisme d’Accès aux Tests des Systèmes
On Chip
Fatma Tiza ; Youssef Bennis
Professeur : A. Khouas
Département de génie électrique
École Polytechnique de Montréal
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Projet, ELE6306 - 11 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal
Plan
ÉvolutionSystème On ChipDifficultés de la testabilité des SOCsComment résoudre le Probléme?Architecture P1500Mécanisme d’Accès aux Tests-LimitationÉtats de l’art des Architectures des TAMSOptimisations –Modèles Mathématiques des TAMSExemples des cas ÉtudiésConclusionQuestions et suggestions
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EVOLUTION
1800 : DECOUVERTE DE L’ÉLECTRICITÉ
1905 : INVENTION DE LA DIODE
1954 : INVENTION DU TRANSISTOR
1959 : PREMIERS CIRCUITS INTEGRES
Années 80 : AVENEMENT DE L’INFORMATIQUE PERSONNELLE
COURSE VERS LA MINIATURISATION
CREATION DES « SYSTEM ON CHIP »
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SYSTEM ON CHIP
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DIFFICULTE DE LA TESTABILITE DES SoC
Accessibilité aux cœurs
Temps de test du système
Puissance dissipée au cours du test
Partage des ressources de test
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COMMENT RESOUDRE LE PROBLEME ??
NORME IEEE P1500
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ARCHITECTURE P1500
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Defintion d’un wrapper: Interface entre le cœur (entrées\sorties) et le TAM
Defintion d’un TAM : Permet le transfert les données de test au niveau système
Il existe deux types de TAM
TAM qui réutilisent les ressources fonctionnelles
TAM correspondant au rajout du matériel
MECANISME D’ACCES AUX TESTS-
LIMITATION
Mots clés : Wrapper ,TAM
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La norme P1500 n’est pas restrictif au choix de conception et de réalisations des TAMs
Les concepteurs doivent respecter impérativement les concepts de la norme P1500 et les contraintes
Temps de test
Surface additionnelle
Contrôle complexe du TAM
Coût du bus additionnel
ETAT DE L’ART DES ARCHITECTURES
DES TAMs
Mots clés : Temps,surface , coût
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ETAT DE L’ART DES ARCHITECTURES DES
TAMs(suite)
De ces architectures sont nés :
Test Bus =multiplexe+distribué
Test Rail =daisy-chained+distribué
Il existe trois types d’architectures
Architecture multiplexée
Architecture daisy-chained
Architecture distribuée
Mots clés : Multiplexée,daisy-chained,
distribuée
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ETAT DE L’ART DES ARCHITECTURES DES
TAMs(suite)
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OPTIMISATION –MODELES
MATHEMATIQUES DES TAMs Temps de test
surface additionnelle compromis du systemier pour
l’optimisation
Plusieurs solutions ont été proposées dans la littérature pour le problème
d’optimisation
Coeurs transparents
Accès multiple
Architecture de bus basé sur le concept Test Rail
Macros tests
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Notre approche se fait par un ILP,car le problème d’optimisation est un NP-complet
ILP= Programmation Linéaire Entière
Trois cas d’études ont été fait:
Assignement des cœurs aux bus de test
Minimisation de la largeur du bus
Subdivision du bus
OPTIMISATION –MODELES
MATHEMATIQUES DES TAMs(suite)
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OPTIMISATION –MODELES
MATHEMATIQUES DES TAMs(suite)
Modèle Mathématique de l’ILP
avec i variant de 1 a Nc (Nc nombre de cœurs dans le SOC)
i =max(entrées,sorties) du cœur i
Wj:largeur du bus J pour lequel le cœur i lui est assigné
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS
L’étude a été faite sur le SOC suivant :
Sept circuits combinatoires et trois circuits
séquentiels
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Cas 1 :Optimisation d’assignement optimal des cœurs au bus
largeur W est fixe ,le temps de test est optimisé par ILP
Dans cette résolution ,on a
optimisé le temps de test
du système ,avec la
largeur fixée
Il y a deux bus w1,w2
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Cas 2 :Optimisation de la largeur du bus
Le temps de test est fixé,on cherche a optimiser la largeur des
bus pour l’assignement aux cœurs
EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Dans cette résolution ,on a
optimise la largeur du bus
et le temps de test est fixe
par calcul (ILP)
Il y a deux bus W1,W2
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Le compromis est au concepteur système de faire
le choix
la largeur du bus et le temps de test Si W=48 ,pour les trois assignemnts suivants,et les différents W1 et
W2 on a :
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Cas 3 :Optimisation de la subdivision du bus test
largeur W est fixe ,le temps de test est optimisé par ILP
(a,b)correspond a la
subdivision de w2
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Comparaison entre la subdivision et la non subdivision
La subdivision
optimale diminue le
temps de test du SOC
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EXEMPLES DES CAS ETUDIÉS(suite)
Représentation de la subdivision du SOC sur w1
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CONCLUSION
La standardisation est nécessaire pour pallier a tout les problèmes
causés par le test
Les solutions a apporter doivent être flexibles
Les solutions doivent répondre à la norme P1500
Il ne faut pas omettre la dissipation de puissance causée par le test
Pourquoi ne pas trouver un logiciel ,ou le test d’un SOC sera une
option?
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QUESTIONS ET SUGGESTIONS?