Fluorescenza a Raggi X a Riflessione Totale (TXRF) · PRINCIPI DELLA XRF 9Interazione dei Raggi X...
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Fluorescenza a Raggi X a Fluorescenza a Raggi X a Riflessione Totale (TXRF)Riflessione Totale (TXRF)
Principi ed ApplicazioniPrincipi ed Applicazioni
Amedeo CinosiAmedeo CinosiG.N.R. srlG.N.R. srlwww.gnr.itwww.gnr.it
SommarioSommario
PRINCIPI DELLA XRF
Interazione dei Raggi X con la materia
Fluorescenza RX
TXRF: Principi e caratteristiche
APPLICAZIONI IN TXRF
Campioni mineralizzati (CRM)
Applicazioni su prodotti petrolchimici
Valutazione della TXRF nell’analisi di campioni ambientali e biologiche tal quali.
Altre applicazioni della TXRF: nell’elettronica, nell’archeologia/storia dell’arte e nelle scienze forensi
Natura corpuscolare - Energia (keV) 100 40 1 0.02
Natura ondulatoria - Lunghezza d'onda (nm) 0.01 0.03 1 10
RAGGI X
FRX
λν hchE == [ ] [ ]nm
keVEλ
2398.1=
RAGGI XRAGGI X
Campione
Interazione dei Raggi X con la Interazione dei Raggi X con la materiamateria
SorgenteRaggiX
Diffusione elasticasull’atomo(Rayleigh)
Diffusione anelasticaincoerente(Compton)
EffettofotoelettricoEo = hνo= hνf
Eo = hνo> Ef=hνf
ΔE=E2-E1=KαEnergia RX difluorescenza
FotoelettroneEk = hνο - EL
Fotone RX incidenteEo = hνo
Effetto fotoelettrico e XRF
Elettrone Auger
L'energia di transizione dell’atomo allo stato fondamentale può essere emessa come radiazione elettromagnetica (Fluorescenza) oppure può essere ceduta ad uno degli elettroni, che viene così espulso
e può essere rilevato: effetto Auger
E2 E1
Germanium
Transizioni elettronicheTransizioni elettroniche
Energie di transizione emesse dall’atomo dallo stato eccitato allo stato fondamentale (Kα..Lα..)
Energia delle righe XRFEnergia delle righe XRF
MoKα=17.479keV Efficienza eccitazione di Z=f(E sorg.)
PbAs
5000 6000 7000 8000 9000 100000.00.20.40.60.81.01.21.41.61.82.02.22.4
counts
/(ch
annel
sec
ond)
photon energy [eV]
Kα6.398 eV
Ferro
Kβ7.057 eV
XRF XRF -- Righe KRighe K
8000 10000 12000 14000 160000
1
2
3
4
5co
unts
/ (
chan
nel
sec
ond)
photon energy [eV]
PiomboLα
Lβ
Lγ
XRF XRF -- Righe LRighe L
Tecniche XRFTecniche XRF
XRF
EDXRF Fluoresc. a dispers. di energia
WDXRF Fluoresc. a dispers. di lunghezza d’onda
EDXRF(~40°)
TXRF
Il campione irraggiato, genera un fascio policromatico di XRFPrincipio delle tecniche analitiche XRF è la loro discriminazione sulla base
della lunghezza d’onda o dell’energia.
Diffrazione RX con cristallo disperdente (monocromatore LiF) - Legge di Bragg
Detector a stato solido Si(Li)
r
θ1 > θC
n2
θ1
r=90°
Esiste un angolo di incidenza θ1=θC per il quale
l'angolo di rifrazione θ2 = 0°.
Tale angolo è detto angolo critico: cosθC= n2/n1
L’indice di rifraz. RX nell’aria n1≈1 →→ cosθC= n2
Se l'angolo di incidenza è minore dell'angolo critico, il
raggio incidente viene totalmente riflesso (riflessione
totale).
Principio della TXRFPrincipio della TXRF
n2
La riflessione e la rifrazione dei RX può essere descritta con lo stesso formalismo
della luce visibile.
Da cui:
ν inc= ν rifl= ν rifratt
Riflessione:Angolo incidente θ1=ang.riflesso θ1r
Rifrazione: Legge di SNELL:
i = ic
n2
n2
θ1
θ2
θ1 θ1r
θ1 = θC
θ2 = 0°
θ1 < θC
2
1
1
2
coscos
nn
=θθ
DIN 51003: Total Reflection X-Ray Fluorescence Principles and Definition
IntensitIntensitàà FRX con lFRX con l’’angolo angolo dd’’incidenzaincidenza
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.00.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
1.6
1.8
2.0
criticalangle
Background
Fluorescenceline
Arbitrary units
angle [mrad]
Inte
nsi
tàRX
Quartz reflectorMo Kα radiation
Line intensityIL∝ ( 1 + R )
BackgroundIB∝ ( 1 - R ) sinθ
α=0.1°=1.75mrad
Sup. liscia rugosità<1/20λ
Sup. ruvida
R=0R=1
Incid
Rifl
II
R =Reflectivity
Confronto TXRF vs EDXRFConfronto TXRF vs EDXRF
PRINCIPALI DIFFERENZEPRINCIPALI DIFFERENZE
Geometria
Background ⇒ LoD
Effetto matrice ⇒ Calibrazione
TXRF vs EDXRF: GeometriaTXRF vs EDXRF: Geometria
X-raytube
Sample onOptical flat
Fluorescenceradiation
Energy-dispersivedetector
Totally reflectedbeam
TXRFTXRF
La principale differenza EDXRF-TXRF è nella geometria dell’angolo d’incidenza α del raggio primario
EDXRF: α circa 40°.
TXRF: α≤ angolo critico di riflessione (~0.1°).
Posizione detector.
X-raytube
Primarybeam
Fluorescenceradiation
Sample
Energy-dispersivedetector
Conventional EDXRFConventional EDXRF
α
TXRF vs EDXRF: Detection TXRF vs EDXRF: Detection LimitsLimits
In condizione di riflessione totale il background spettrale è minimo.Tra le tecniche a dispersione di energia, i limiti di rilevabilità più bassi, a parità di matrice, si hanno in TXRF
Definizione LoD (IUPAC)
tB
AmLoD ⋅⋅= 3
mA
= sensibilità B (cps) conteggio del backgroundA (cps) Area netta dell’analita m (pg) massa dell’analita t (sec) tempo di acquisizione
16.0 16.2 16.4 16.6 16.8 17.00
500
1000
1500
Nb
Cou
nts
/ cha
nnel
Energy [keV]
TXRF vs EDXRF: Calibrazione TXRF vs EDXRF: Calibrazione
TXRF: Ki=cost per assenza effetti matrice
Analisi quantitativa con un solo standard
interno
Ci=Ki•IiCi=conc. Ii=intensità (cts) Ki=fattore matrice
EDXRF:Ki=f(C1+C2+C3+..)1,2,3..elementi della matriceEffetti matrice
Calibrazione
•parametri fondamentali funzione della geometria e della fisica del sistema
•materiali standard (CRM) affini
PreparazionePreparazione e e analisianalisi campionecampione
RX-tube
Si/LiDetector
PesareCampione
Aggiungere Std Interno
Omogeneizzare
Rimozione frazione solvente
(es. evap. 90-100°C)Film sottile
Vol.= 8 µL
TXRF vs EDXRF: ConfrontoTXRF vs EDXRF: Confronto
LIMITIBassa sensibilità per
elementi leggeri (Na, Mg, Al, Si)
Non determinabili Z<11 (Li, Be, B, F)
Il campione dev’essere in fase liquida: mineralizzato o sospeso (slurry)
VANTAGGIalto range dinamico 105
riduzione/eliminazione del background spettrale: miglioramento dei Limit of Detection (LoD) fino a cinque ordini di grandezza (da 10-7 a 10-12 g).
Assenza effetti matrice: analisi quantitativa con un solo Standard Interno
Principali campi dPrincipali campi d’’applicazioneapplicazione
Scienze Forensi Analsi non distruttive e su microcampioni
Ambientale Terreni, acque e particolato
Alimentare Materie prime, coloranti, conservanti, prodotti finiti
Medico/Biologico/Farmaceutico Tessuti, dosaggio chemioterapici
Applicazioni industriali ed elettroniche Si-wafer: ISO 14706, ISO 17331)
Archeologia e storia dell’arte
Petrolchimico-chimico Prodotti petroliferi, intermedi della detergenza e cosmesi, olii, solventi..smalti, vernici
Cinosi et al.: XVIII CONGR. NAZ. DICHIMICA ANALITICAParma, 19-23 Settembre 2004
TXRF TXRF -- Analisi di elementi in tracce Analisi di elementi in tracce
in prodotti petrolchimici e intermedi in prodotti petrolchimici e intermedi
per la detergenzaper la detergenza
Monitorare i fenomeni di corrosioni ed eventualmente fornire indicazione sull’origine (Fe, Ni, Cr, Mn..)
Individuare processi di trasporto di componenti derivanti dai catalizzatori (Co, Ni, Pt, Rh, Cr, Cu..).
Assistenza di processo e Qualitàdei prodotti
Logistica
Ricerca delle probabili cause che alterano (inquinamento) la qualità dei prodotti in fase di Trasporto e/o Stoccaggio
Riflessi sul prezzo del prodotto e/o sui costi logistici dei mezzi coinvolti (es fermo nave).
Standard Test MethodsASTM: D 4927 Ba, Ca, P, S e Zn in Lubrificant and Additive ComponentASTM: D 5059 Pb in GasolineASTM: D 6443 Ca, Cl, Cu, Mg, P, S e Zn in Unused Lubrificating Oil and Additives ASTM: D 6481 P, S, Ca, Zn in lubrificant oilASTM: D 6842 P, S, Ca, Zn in unused lubrificant oil and additiveISO 14597 V, Ni in petroleum products
VantaggiRapidità esecutiva
Rilevamento di tutte le fasi metalliche presenti.
LimitiDifficoltà di calibrazione (effetto matrice)
LoD dell’ordine di ppm
Metodi standard per analisi metalliin prodotti petrolchimici mediante
Fluorescenza a Raggi X
Metodi standard per analisi metalli in prodotti petrolchimici mediante
Spettrometria AtomicaPreparazione: Incenerimento solforico (550°C)
VantaggiTotale mineralizzazione del campione (fasi metallorganiche e inorganiche)
Analisi di una soluzione acquosa con ridotto fattore di diluizione del campione: ottimi LoD
LimitiTrattamento campione lungo (giorni) con rischio di contaminazioni
Non applicabile a metalli “volatili” (Hg, Se, As..)
Standard Test Methods Tecnica AnaliticaASTM: D5863 (Test Method A) ..Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels..AASISO 8691 Low levels of V (0.4-4 mg/kg) in liquid fuels AASASTM: D 5708 (Test Method B) ..Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels.. ICP OESASTM: D 3340 Li e Na Lubrificating Greases AASASTM: D 5184 Al e Si in fuel oils ICP OES and AASISO 10478 Al e Si in fuel oils ICP OES and AAS
Preparazione: Diluizione in solvente
Metodi standard per analisi metalliin prodotti petrolchimici mediante
Spettrometria Atomica (cont.)
VantaggiRapidità esecutiva
LimitiLoD: maggiore rispetto incenerimento solforico
Non permette di analizzare le fasi insolubili (es particolato, ossidi)
Standard Test Methods Tecnica AnaliticaASTM: D 3237 Pb nelle benzine AASASTM: D 3605 Na,Pb, Ca e V in Gas Turbine Fuell AAS ASTM: D 3831 Mn (MMT) in gasoline AASASTM: D 4268 Ba, Ca, Mg e Zn in Unused Lubrificant Oil AASASTM: D 4951 Ba, B, Ca, Cu, Mg, P, S e Zn in Lubrificant Oil ICP OESASTM: D 5185 22 elementi in Used Lubrificant Oils ICP OESASTM: D 5708 (Test Meth A) Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels ICP OESASTM: D 5863 (Test Meth B) Ni, V, Fe and Na in Crude Oils and Residual Fuels AASUNI EN 13131 Ni and V in Petroleum products AAS
Paraffine, olefine, alchilbenzeni lineari (LAB), alcoli, esteri
Conc. tipica metalli <1μg/g, fasi inorganiche e/o metallorganiche
Confronto
ICP-OES vs TXRF
TXRF(Total Reflection X-ray
Fluorescence)
ICP-OESStandard Test Methods
(ASTM: D 5708-B)
Preparazione campione
TXRF: trattamento campione
Sperimentato un metodo di preparazione mediante arricchimento ON-SITE: progressive deposizioni ed evaporazioni del campione sul riflettore (portacampione)
Radiazioni primarie di eccitazioni
Tubo RX a doppio anodo: Mo/W
1 - Spettro bianco del W (max 33 keV)
2 - Mo Kα (17.5 keV)
Spettro bianco del W o 33 keV
Efficienza eccitazione
Y
Sorgente continua e di debole intensità
Elementi con Z<40 sono determinati con una maggiore sensibilità utilizzando come sorgente la Kα Mo
Lo spettro bianco è l'insieme di tutte le energie emesse dal tubo per effetto del frenamento(bremsstrahlung) degli elettroni sull'anodo di W, con un massimo di intensità a 33 keV.
Vantaggi
Permette di eccitare le linee K di particolari elementi (Z<52 es.: Zr, Mo, Rh, Pd,Ag,Cd, Sn, Sb) invisibili alla Kα del Mo e la Lαdel W
Migliorare la sensibilità per tali elementi fino a 2 ordini di grandezza
0
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0 5 10 15 20 25 30analita (ng)
LoD
(ppm
)
TiCrFeNiCuGaSePb
Volume ( μL)8 16 32 48 64 24 40 56
Sorgente: MoKaLoD diventa costante concentrando almeno 32 μL di campione on-site
Campione+0.4 ppm Std metalli in olio (S12+Se: Conostan® + Ga)
Mo Ka - arricchimento del campione on-site
0.0020.0040.0060.0080.00
100.00120.00140.00160.00
Ti Cr Fe Ni Cu Se Pb
Rec
over
% (±
IC)
Dove:
Sorgente: Mo Kα
Campione: 32 μL di campione +0.4 ppm Std metalli in olio (S12+Se: Conostan® + Ga)
Test di recupero
nstIC ⋅
±=
Hyblene 113: alchil benzene
Conc. (ppm) ICP TXRF
Ca 0.36 0.35Cd <0.004 <0.015Co 0.003 <0.005Cr 0.002 0.012Cu 0.006 0.009Fe 0.06 0.06Mn <0.001 <0.003Mo 0.013 <0.007Ni 0.006 0.007Pb <0.04 <0.002Rh <0.03 <0.008Sn <0.008 <0.019Sr <0.0003 <0.001V <0.002 <0.008Zn 0.03 0.03
7 ppb
30 ppb
9 ppb
Ctz.: Pt, Ni
Source Mo-KαLive time 800sCurr.Intensity 40mA
Cosmacol ELI: Estere Lattico
Conc. (ppm) ICP TXRF
Ca 0.24 0.16Cd <0.004 <0.015Co 0.010 0.019Cr 0.008 0.005Cu 0.006 0.005Fe 0.08 0.05Mn 0.002 <0.003Mo <0.008 <0.007Ni 0.007 0.007Pb <0.04 <0.002Rh <0.03 <0.008Sn 0.02 <0.019Sr 0.001 <0.003V 0.004 <0.008Zn 0.03 0.01
50 ppb
7 ppb
Ctz.:Cu, Cr, Co, Ni
Source Mo-KαLive time 800sCurr.Intensity 40mA
0.000
0.005
0.010
0.015
0.0200.025
0.030
0.035
0.040
0.045
Ca V Cr Mn Fe Ni Co Cu Zn Sr Mo Rh Cd Sn Pb
ppm
ICP
TXRF
TXRF: Mo kα / 33 keV
ICP-OES: ASTM: D 5708-B su LAB: 10g @ 25 ml
Limit of detections ICP-OES vs TXRF
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
TXR
F (p
pm)
ICP OES (ppm)
Correlazione tra risultati in ICP-OES e TXRF in prodotti petrolchimici
Y = A + B * X N = 32 R = 0.998 --------------------------------------Param Value IC (t*s)--------------------------------------A -0.0039 0.0046B 1.0137 0.0252-------------------------------------
-0.040
-0.020
0.000
0.020
0.040
0.00 0.10 0.20 0.30 0.40 0.50 0.60 0.70 0.80 0.90
Residui
Confronto ICP-OES e TXRFi risultati non differiscono significativamentecorrelati linearmente
Diesel Fuel by TXRFDIESEL FUEL ISOOCTANE DIESEL FUELSDSL-BLK:509-0247 SISO-5:507-0460 SDSL-5:509-0584
SD SD SDLoD
(ng/g)P < 100 P < 100 P < 100 P 100S < 70 S < 70 S < 70 S 70K < 20 K < 20 K < 20 K 20Ca 233 23 Ca 24 5 Ca 460 6 Ca 13Sc < 10 Sc < 10 Sc < 10 Sc 10Ti < 5 Ti < 5 Ti < 5 Ti 5V < 2 V < 2 V < 2 V 2Cr < 2 Cr < 2 Cr < 2 Cr 2Mn < 2 Mn < 2 Mn < 2 Mn 2Fe 28,3 0,8 Fe 9,14 0,02 Fe 38 3 Fe 2Co < 1 Co < 1 Co < 1 Co 1Ni < 1 Ni < 1 Ni < 1 Ni 1Cu 7 2 Cu < 1 Cu 7,7 0,6 Cu 1Zn 3,0 0,1 Zn 1,3 0,7 Zn 9 1 Zn 1As < 1 As < 1 As < 1 As 1Pb < 2 Pb < 2 Pb < 2 Pb 1,8Se < 1 Se < 1 Se < 1 Se 0,8Rb < 1 Rb < 1 Rb < 1 Rb 0,7Sr < 1 Sr < 1 Sr < 1 Sr 0,7Y < 1 Y < 1 Y < 1 Y 0,7Ta < 3 Ta < 3 Ta < 3 Ta 3W < 2 W < 2 W < 2 W 2Tl < 2 Tl < 2 Tl < 2 Tl 2Th < 1 Th < 1 Th < 1 Th 1,3U < 1 U < 1 U < 1 U 1,3
Conc. (ng/g)
Conc. (ng/g)
Conc. (ng/g)
Arricchimento on site: metalli e LoD a ppb level!!
ICP-OES TXRF
Sensibilità Comparabili, eccetto per il Rh e Pb
Decresce con il numero atomico
Preparazione campione
Trattamento campione lungo con rischio di
contaminazioni Semplice e veloce
Tempi 3-4 giorni Poche ore (circa 3)
CalibrazioneMultielemento: in base al
tipo di elemento da determinare
UN SOLO standard interno
Campo di applicazione
Metalli "non volatili” (Hg, Se, As..)
Simultanea ed accurata determinazione dei metalli
nel campione (Z > 15)
Confronto ICP-OES vsTXRF prodotti petrolchimici distillati
Analisi di oli, code di distillazioni Analisi di oli, code di distillazioni
e varie matrici organiche e varie matrici organiche (sostanze grasse, alimentari, biologici, (sostanze grasse, alimentari, biologici,
farmaceutici , vernici farmaceutici , vernici ……))
Gli elementi presenti nelle matrici organiche sono determinati con ICP, AAS, XRF
Standard test methods (ASTM, ISO, CEN…)
Metodi interni sottoposti a processi di cross validation
LIMITI
Trattamento dei campione (spesso complesso)
Personale esperto
Parziale informazione sulla composizioneelementare
Specifiche procedure di calibrazioni
Analisi campioni organici talquali in TXRF
Vantaggi:Rapiditá esecutiva
Analisi del campione TQ (es olio, emulsione) o diluito in solvente (crema, cera..)
Metalli + S tot+ alogeni (Cl, I Br)
LimitiElevati LoD pertanto ottimo campo di applicazione a matrici con elevati metalli (LOI~1-10%)
Il campione deve poter formare un film sottile omogeneo sul riflettore
Determinazione del Cloro: confronto microcoulometria vs TXRF
CampioneMicrocoulo
metria (ppm)
TXRF (ppm)
sample prep. TXRF
Tributene <1 <0,5evaporazione
matrice
Cloroparaffina A 42 41,8campione tal
quale
Cloroparaffina B 92 89campione tal
quale
TT 11 143 144evaporazione
matrice
FT 10 290 311evaporazione
matrice
Alim. T6 726 671evaporazione
matrice
TT 9 1280 1390evaporazione
matrice
Sample B2 sup. 118000 121000campione tal
quale
Sample B2 inf. 315000 297000campione tal
quale
Cloroparaffina 1 599000 599000campione tal
quale
Cloroparaffina 2 480000 499000campione tal
quale
S. B1 da Cloroparaffina 207000 213000campione tal
quale
S. A1 da Cloroparaffina 150000 151000campione tal
quale
CloroTXRF vs microcoulometric titration
ASTM4929
0 100000 200000 300000 400000 500000 600000
0
100000
200000
300000
400000
500000
600000
TXRF
Cl (
ppm
)
Microcoul. Cl (ppm)
Y = A + B * X
Param Value sdA -214 3058B 1,01 0,01
n=12 R = 0.99928
Confronto olio TQ vs TXRF-OVD
Confronto spettrale in TXRF di un campione di olio esausto acquisito tal quale (linearossa) e mediante TXRF-OVD (linea blu)
Deciso incremento della sensibilità nel campione analizzato mediante TXRF-OVD, tale da di rilevare elementi (es Ca, Zn, Ga) altrimenti non visibili sul TQ.
I limit of detection migliorano di 20-30 volte rispetto il TQ
Confronto TXRF-OVD vs ICP-OES
Sample preparation ICP -OES: incenerimento solforico o solfo-nitrica in Microonde
EXAUST OIL PUMP
ICP-OES TXRF
ElementConc (μg/g)
Conc (μg/g) LoD (μg/g)
K 9 5 0,9Ca 258 219 3,2Ti 1 0,6V 0,45 0,3Cr 1,0 0,4 0,2Mn 0,9 0,2Fe 35 37 0,6Co 0,15 <0,1 0,1Ni 0,63 0,50 0,08Cu 27,9 22,7 0,4Zn 207 233 1Sr 0,4 0,37 0,03Ba 23,2 28,2 1,3Pb 2,1 1,9 0,1Bi 0,5 0,5 0,05
DISTILLATION BOTTOM
ICP TXRF
ElementConc (μg/g)
Conc (μg/g)
LoD (μg/g) Source
Na <10P <10 <3 3 W-La
Rh <2 <1 1 W-LaCr 0,55 0,40 0,15 W-LaMn 0,06 0,06 0,04 W-LaFe 4,4 3,8 0,02 W-LaCo <0.9 <0.05 0,02 W-LaNi 1,9 2,1 0,03 W-LaAs <3 <0.03 0,03 Mo KaCu 0,6 0,8 0,03 Mo KaZn 0,4 0,3 0,02 Mo Ka
Note: source W-La: P, Rh, Cr, Mn, Fe
source Mo-La: As, Cu, Zn
OIL FUEL BTZICP-AES
ASTM TXRFConc (μg/g)
Conc (μg/g)
LoD (μg/g)
K 127 159 20Ca 3030 2832 56Ti 100 142 13V 31 28 6Cr 69 56 6Mn 171 175 8Fe 3419 3309 25Ni 78 59 4Cu 219 204 5Zn 896 984 10As nd 2,4 2Rb nd 1,2 0Sr 12 13 1Ba 89 48 17Pb 67 71 3W nd 39 4
Vantaggi TXRF-OVD:Analisi simultanea ed accurata con un solo standard interno
Tempi di preparazione
Assenza effetti matrice (fuel oil)
Limiti TXRF-OVD:Possibile perdita di fasi dello zolfo (S0 e S-) e del cloro
Scarsa sensibilità per elementi leggeri (Na, Mg, Al, Si)
Non determinabili Z<11 (Li, Be, B, F)
Riassunto (prodotti organci)
Trattamento campione
distillati Oli e code distillaz.
Evaporazione e arricchimento
on-site
TXRF-OVD
Campione tal quale: determinaz.
fasi volatili
Analisi di campioni Analisi di campioni solidi mineralizzati solidi mineralizzati
Cinosi and Rustioni: TXRF 2002 Sept. 8 – 13, 2002 Madeira, Portugal
Campioni Campioni
Certified Reference Material (CRM) ICP-Sample Producter Sample Material Sample Material
MINTEK NIM G Granite Z1 Zeolites
MINTEK NIM L Lujavrite VL-B Corrosion Product
GSJ JB 1 Basalt VL-C Corrosion Product
NCS DC 14018 Dolomite VL-D Corrosion Product
FC352 Corrosion Product
CRM di CRM di geostandardgeostandard
Prodotti di corrosioneProdotti di corrosione
NimNim G G –– GranitoGranitoRef. Found
% %Fe2O3 2,02 2,02
MnO 0,021 0,02CaO 0,78 0,79K2O 4,99 4,97TiO2 0,09 0,09
μg/g μg/g LoDCr 2 <10 10Ni 8 <3 3Cu 12 8 0,1Zn 50 51 5Ga 27 27 4As 15 15 1Rb 320 311 1Sr 10 12 1Y 143 133 1Hf 12 11 5Pb 40 39 2Th 51 44 2
Linear Regression for NIM GY = A + B * X
N = 14 R = 1Param Value sd
A 6 13B 0,9963 0,009
1,E+00
1,E+01
1,E+02
1,E+03
1,E+04
1,E+05
1,E+00 1,E+01 1,E+02 1,E+03 1,E+04 1,E+05
Ref. data (μg/g)
TXR
F da
ta ( μ
g/g)
Elementi: As, Ca, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Hf, K, Mn, Ni, Pb, Rb, Sr, Th, Ti, Y, Zn da 0.5μg/g a 44%
Comparition between Reference value and TXRF data
0
1
10
100
1000
10000
100000
1000000
0 1 10 100 1000 10000 100000 1000000
Reference/ ICP-AES data (μg/g)
Mea
sure
d TX
RF
Valu
e (
μg/
g)
JB 1
Z1
NIM G
NIM L
DC14018
VL-B
VL-C
VL-D
FC 352
I risultati non differiscono
significativamente
Le due serie di dati sono linearmente correlate
Valutazione statistica dei dati (n=78) con il PAIRED t-TEST
C R M and IC P data / T X R F corre la tion data resu lt. E quation: Y = A + B X
n r A S D (A ) B S D (B ) 78 0 .99974 -180 277 1 .009 0 .003
Valutazione dei dati in TXRFValutazione dei dati in TXRF
ColtanColtan ColumboColumbo--TantaliteTantalite
Conc % sd rsd%
LoD % Sorgente
Nb 24 2 7 0.3 W-La Ta 11.7 0.6 5 0.015 Mo-Ka Fe 8.2 0.4 5 0.01 Mo-Ka Mn 5.4 0.4 8 0.015 Mo-Ka Sn 3.39 0.04 1 0.06 W-La W 1.18 0.09 8 0.015 Mo-Ka Ti 1.12 0.06 6 0.015 W-La Ca 4705 256 5 300 W-La V <200 200 Mo-Ka Cr <200 200 Mo-Ka Se <30 30 Mo-Ka Y 1071 72 7 20 Mo-Ka K <500 500 Mo-Ka Rb <20 20 Mo-Ka Sr 152 40 26 20 Mo-Ka Pb 488 147 30 70 Mo-Ka Th 221 87 39 40 Mo-Ka U 1094 126 12 40 Mo-Ka Ce 968 196 20 280 W-La Nd 608 23 4 250 W-La
TXRF TXRF –– sample sample slurryslurry analysisanalysisObiettiviObiettivi
Analisi campione tal qualeAnalisi campione tal qualeSimultanea determinazione quantitativa con uno Int. Simultanea determinazione quantitativa con uno Int. StdStd.:.:
Metalli Metalli Cl, S, I, Br Cl, S, I, Br As, Se, As, Se, SbSb……HgHg
Incremento produttivitIncremento produttivitàà: tempi/costi: tempi/costiPossibilitPossibilitàà di analizzare di analizzare microcampionimicrocampioni
Punti criticiPunti critici
Sedimentazione dello Sedimentazione dello slurryslurry –– campione rappresentativo campione rappresentativo (prelievo=8 (prelievo=8 μμl) l) Assicurarsi che siano verificate le condizioni per una Assicurarsi che siano verificate le condizioni per una effettivaeffettivaTotal Reflection (Total Reflection (criticalcritical mass/mass/thicknessthickness))
Granulometria campioneGranulometria campione
Particle Size Distribution
0.01 0.1 1 10 100 1000 3000 Particle Size (µm)
0 1 2 3 4 5 6 7 8
Vol
ume
(%)
VI 33, 10 November 2006 10:42:33
CampioneCampioneMacinato in Macinato in vibromulinovibromulino
PolverePolvere
D < 1 D < 1 μμm m D <10 D <10 μμmm D < 30 D < 30 μμmm
10%10% 50%50% 90%90%
Sedimentazione dello Sedimentazione dello slurryslurry
Nella sospensione della polvere Nella sospensione della polvere nel liquido la velocitnel liquido la velocitàà di di caduta dei granuli caduta dei granuli èè data data dalla legge di dalla legge di StoksStoks: :
v= velocità di sedimentazione;R = raggio delle particelle disperse;ds = densità della fase solida;dl = densità della fase liquida;g = accelerazione di gravità;h = viscosità della fase continua.
η9)(2 2 gddR
v ls −=
Soluzione Soluzione
Per ridurre la velocitPer ridurre la velocitàà di caduta di caduta e la differenza di velocite la differenza di velocitàà tra le tra le fasi della polverefasi della polvere
Solvente dipolare Solvente dipolare aproticoaprotico
ηηsolvsolv > > ηηH2OH2O
Buon potere disperdente delle Buon potere disperdente delle polveripolveri
Qz in H2O (cm/sec)
Qz in Solv. (cm/sec)
FeOOH in H2O(cm/sec)FeOOH in Solv.(cm/sec)
0.000 0.0005 0.001 0.0015 0.002 0.0025 0.003 0.0035
Raggio (cm)
1.00
2.00
3.00
4.00
5.00
6.00
7.00
8.00
V (c
m/s
ec)
TXRF massa/spessore critico per TXRF massa/spessore critico per Analisi di Analisi di SlurrySlurry
Spessori critici e masse critiche approssimative di Spessori critici e masse critiche approssimative di ““infinitiinfiniti””film sottili analizzati in TXRF con sorgente Mofilm sottili analizzati in TXRF con sorgente Mo--KKαα. I . I valori critici dipendono dallvalori critici dipendono dall’’energia E dei raggienergia E dei raggi--X di X di
fluorescenza dei singoli elementi. fluorescenza dei singoli elementi.
ρρμ )(Kt ≤
From: R. Klockenkämper and A. Von Bohlen Spectrochimica acta part B 44 (1989) 461-469.
K = cost 0.1−0.05
(μ/ρ) = coff. d’assorb. di massa del campione
ρ = densità del campione
t = spessore critico
CertifiedCertified ReferenceReference MaterialsMaterials
0 10000 20000 30000 400000
10000
20000
30000
40000
TXRF
Dat
a (p
pm)
Certified values (ppm)
Y = A + B * XR = 0.99749 N = 38
Param Value sdA -67.2 93.8B 1.01 0.01
GBW 07405 SOILGBW 07405 SOILCertified values Found
As ppm 412 430Cr ppm 118 102Cu ppm 144 142Mn ppm 1360 1429Ni ppm 40 36Rb ppm 117 133Sr ppm 41,5 55Th ppm 22,7 26Ti ppm 629 648V ppm 166 182Y ppm 21 27K ppm 12452 11925Zn ppm 494 515Fe ppm 88267 Int.Std.
NIST SRM 2781NIST SRM 2781Certified values Found
K ppm 4900 4635Ca ppm 39000 41048Ti ppm 3200 3391Cr ppm 202 204Fe ppm 28000 Int.Std.Ni ppm 80,2 75Cu ppm 627,4 621Zn ppm 1273 1277As ppm 8 14Pb ppm 202,1 200Se ppm 16 13
GBW 07401 SOILGBW 07401 SOILCertified values Found
As ppm 33,5 42Cr ppm 62 47Cu ppm 21 20Mn ppm 1760 1705Ni ppm 20,4 19Pb ppm 98 93Rb ppm 140 139Sr ppm 155 162Th ppm 12 8Ti ppm 4830 4705V ppm 86 91Y ppm 25 24Ca ppm 12293 11557K ppm 21501 19143Zn ppm 680 694Fe ppm 36300 Int.Std.
CARATTERIZZAZIONE ELEMENTARE MEDIANTE CARATTERIZZAZIONE ELEMENTARE MEDIANTE FLUORESCENZA A RAGGI X IN RIFLESSIONE FLUORESCENZA A RAGGI X IN RIFLESSIONE
TOTALE E SPETTROMETRIA OTTICA IN TOTALE E SPETTROMETRIA OTTICA IN EMISSIONE CON PLASMA ACCOPPIATO EMISSIONE CON PLASMA ACCOPPIATO
INDUTTIVAMENTEINDUTTIVAMENTE DEI DEPOSITI DEI DEPOSITI SUPERFICIALI DEL TEATRO ROMANO SUPERFICIALI DEL TEATRO ROMANO DIDI AOSTAAOSTA
Amedeo CinosiAmedeo Cinosi, Filippo Lo Coco, Anna , Filippo Lo Coco, Anna PiccirilloPiccirillo, Lorenzo , Lorenzo AppoloniaAppolonia, Francesca , Francesca TibaldiTibaldi, Nunzio , Nunzio AndriolloAndriollo
Région Autonome Vallée d'AosteRegione Autonoma Valle d'Aosta
Tematiche ambientali 2006- Inquinamento atmosferico e beni culturali.Protezione e conservazione del patrimonio culturale- Udine, 5-7 dicembre 2006
Particolato atmosfericoParticolato atmosfericoAttività di ricerca del Ni in ambiente di lavoro (capannone di compostaggio).
Ni: allergenico e causa di tumori delle alte vie respiratorie
Φ<100μm
Mediana Φ=30μm
Particolato atmosfericoParticolato atmosfericoICP OES: campione mineralizzato HF/HNO3
TXRF: campione analizzato tal quale; Int.Std=Fe (dato ICP)
1
10
100
1000
10000
100000
K Ca Cr Mn Ni Cu Zn Sr Pb
TXRFICP OES
TXRF ICP-OESmedia (ppm) SD
media (ppm) SD
K 11617 478 10260 14Ca 56334 3829 56680 5685Ti 1693 315 --V <60 --Cr 283 127 281 6Mn 700 160 709 13Fe intern. Standard 41995 1252Ni 136 35 163 6Cu 589 128 394 4Zn 1764 309 1386 37As 25 11 --Br 42 8 --Rb 40 3 --Sr 285 37 212 1Y 17 7 --Pb 1345 352 1044 4Ba 1166 232 --Cd 9 1Sn 223 47
Si osserva un generale accordo tra i dati ottenuti con i due metodi d’analisi. La TXRF ha inoltre permesso di trarre maggiori informazioni sulla
composizione del campione.
NISTNIST--QC03LH3QC03LH3 -- Fegato di Fegato di capodoglio omogeneizzatocapodoglio omogeneizzato
Il campione è stato analizzato come slurry- Fe int std
Recomm. Val.-U
NIST Recommended Values (ppm)
Recomm. Val.+U
Cu 2.55 2.74 2.93Zn 19.5 21.15 22.8Se 6.69 7.87 9.05Rb 1.54 1.61 1.68Hg 2.90 3.57 4.24
TXRF Average (ppm) sd rsd%
Cu 2.74 0.48 17.6Zn 22.10 0.06 0.3Se 8.0 0.03 0.3Rb 1.636 0.078 4.8Hg 3.2 0.4 13.0
0
5
10
15
20
25
Cu Zn Se Rb Hg
conc
(ppm
)
TXRF valuesNIST values
NISTNIST--QC03LH3QC03LH3Confronto Tal Quale vs TXRFConfronto Tal Quale vs TXRF--OVDOVD
Sample preparation slurry
Standard interno: std di Ga certificato
Nel trattamento del campione con vapori ossidanti si osserva:
Miglioramento dei Limit of Detection
Perdita di fasi volatili S, Cl, Se, Br, Hg
TXRF- TQ TXRF-OVDRef Conc.
(ppm)Median (ppm)
SD of median LoD
Median (ppm)
SD of median LoD
P ppm 868 ± 500 177,0 P ppm 769 ± 321 127,5S ppm 1595 ± 15 122,0 S ppm 498 ± 118 77,5 lossCl ppm 2257 ± 98 81,3 Cl ppm 239 ± 234 74,0 lossK ppm 2808 ± 180 43,0 K ppm 2785 ± 190 19,0Ca ppm 61 ± 37 14,3 Ca ppm 76 ± 13 12,0Ti ppm <8 ± 8,0 Ti ppm <7 ± 7,0Mn ppm 1.43 <3 ± 3,0 Mn ppm 1,4 ± 0,2 1,0Fe ppm 694 672 ± 10,9 1,5 Fe ppm 668 ± 6,4 1,5Cu ppm 2,74 2,62 ± 0,09 1,2 Cu ppm 4,14 ± 0,24 0,8Zn ppm 21,15 25 ± 1,2 1,5 Zn ppm 25 ± 1,3 0,7As ppm 0,398 <0.6 ± 0,6 As ppm <0,5 ± 0,5Se ppm 7,87 6,70 ± 0,06 0,5 Se ppm 0,16 ± 0,07 0,5 lossBr ppm 16,25 ± 0,67 0,5 Br ppm <1 ± 0,5 lossRb ppm 1,61 1,57 ± 0,46 0,6 Rb ppm 1,60 ± 0,22 0,5Hg ppm 3,06 ± 0,80 1,2 Hg ppm <1 ± 1,1 lossPb ppm 3,56 2,58 ± 0,67 0,7 Pb ppm 1,68 ± 0,41 1,3
CRM OTL1 CRM OTL1 -- TabaccoTabacco
0,01,02,03,04,05,06,07,08,09,0
10,0
Ti V Cr Mn Fe Ni Cu Zn As Br Rb Sr
LoD TQ 8mclLoD OVD-8mclLoD OVD-16mclLoD OVD-40mcl
Ref. Conc. (ppm )
Average (ppm )
RSD%
LoD (ppm )
P 2892 900 33 348S 7320 6653 3 229Cl 298 259 26 135K 15600 13847 2 67Ca 31700 31900 3 41Ti 52 47 9V 1.55 <7 6Cr 2,59 <5 5Mn 412 403 2 4Fe 989 833 15 3Ni 6,32 6,07 16 2Cu 14,1 13 24 2Zn 49,9 48 3 2As 0,5 2 5 1Br 9,28 9,3 14 1Rb 9,79 8,1 3 1Sr 201 216 1 1Ba 84,2 85 16 22Pb 4,91 4 21 3
CRM OTL1 Tal quale vsRef. data
1
10
100
1000
10000
100000
P S Cl K Ca Ti Mn Fe Ni Cu Zn As Br Rb Sr Ba Pb
TQTXRF OVD
RapiditRapiditààSimultaneitSimultaneitàà (metalli, alogeni, Hg, As, Se..)(metalli, alogeni, Hg, As, Se..)Un solo Un solo stdstd internointernoScreening analiticoScreening analiticomigliori prestazioni su polveri con densitmigliori prestazioni su polveri con densitàà(circa<1.5(circa<1.5--2) omogenee e fini (fanghi, pigmenti 2) omogenee e fini (fanghi, pigmenti per cosmesi, per cosmesi, prodprod. chimici, ceneri, farmaci, . chimici, ceneri, farmaci, vegetali..)vegetali..)
AnalisiAnalisi didi campionicampioni taltal qualiqualiVantaggiVantaggi
AnalisiAnalisi taltal didi campionicampioni taltal qualiqualiLimitiLimiti
ElementiElementi leggerileggeriElaborazioneElaborazione spettrospettro in in matricimatrici complessecomplesse((interferenze/risoluzioneinterferenze/risoluzione..) ..) DisomogeneitDisomogeneitàà campionecampione e e GranulometriaGranulometria→→RSDRSD%%DensitDensitàà →→ accuratezzaaccuratezza
GliGli effettieffetti delladella disomogeneitadisomogeneita e e delladella densitdensitàà sonosonominimizatiminimizati utilizzandoutilizzando come Std. Int. un come Std. Int. un elementoelementodel del campionecampione ((eses Fe) Fe)
Applicazioni elettroniche
Purezza Si-wafer: ISO 14706, ISO 17331
VPD-TXRF: Vapor Phase Decomposition
Un reattore genera vapori di HF che condensando sulla superficie del wafer dissolve la superficie di silicio
6HF+SiO2 → H2SiF6↑+2H2O
le impurezze concentrate nell’ H2O, prodotto della reazione, sono analizzate in TXRF
Archeologia e storia dell’arte
TXRF spectrum of varnish of an Andrea Guarneri cello, Cremona, ca. 1670. A. von Bohlen1 -Spectrochimica Acta B 52 (1997) 1053 - 1056
Il rosso è dato da HgS e 2PbCO3•Pb(OH)2
La TXRF si presta all’analisi di micro-campioni prelevati, in un’area ridotta, da oggetti d’intesse storico/artistico. Tale tecnica non è distruttiva e non causa alcun visibile danno.
Tale tecnica permette d’identificareNatura del pigmento (olio, inchiostro, vernice)Datazione dell’opera, dei restauri successiviIdentificare i falsi
R. Klockenk¨amper, A. von Bohlen and L. MoensX-Ray Spectrom. 29, 119–129 (2000)
Scienze forensi
I reperti da esibire come prove Analisi non distruttiveMetodo per caratterizzare micro-campioni
Residui di polvere da sparo Ba(NO3)2
0 5 10 15 200
200
400
600
800
Fi 5
counts
Pb
Pb
SrRb
Br
Ni Cu
Zn
Zn
CuNi
CoFe
Fe
Cr
CrTi
Ti
Ca
Ca
K
ArCl
S
P
Si
Moscattered radiation
black wool, acrylic and polyammide fiber white cotton fiber fiber from gray thermic gloves
E(keV)Tre differenti tipi di fibre
Bibliografia
R. Klockenkämper, Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis, John Wiley and Sons Inc., New York, 1997, ISBN 0-471-30524-3
Spectrochimica Acta Part B: Atomic SpectroscopyTXRF Special Issues – TXRF conference proceedings
Parametri di confronto tra tecniche
Sample preparation
Effetti matrice-strategia di calibrazione
Sensibilità: Lod
numero elementi
Costo analisi: tempo ammortamento strumento, manutenzione.
F-AAS ICP-OES INAAGF-AAS ICP-MS EDXRF - WDXRF
Analytical Features ICP-MS TXRF INAA
Samples
Volume or mass 2-5 mL 5-50 µL 10-200 mg
Preparation of solid Digestion or suspension Digestion or suspension
None
Dissolvation portion < 0.4% < 1% Any
Diluition of acids 1:100 None None
Detection
Detection limits Excellent Very good Very good
Element limitations H, C, N, O, F, P, S Z < 13 Z < 9; Tl, Pb, Bi
Spectral interfer. Several Few Few
Isotope detection Yes No No
Quantification
Calibration Several ext. and inter.std
One internal standard Some pure element foils
Matrix effects Severe None None
Memory effects Yes No No
Time consumption < 3 min < 20 min 20 min – 30 days
Expenditure
Equipment Ar-plasma + quadrup MS Special EDS Nuclear reactor+spectr.
Capital costs Medium Medium Very high
Running costs High Low High
Maintenance Frequently Seldom Seldom
Confronto ICP MS, TXRF, INAA
1,E+00
1,E+01
1,E+02
1,E+03
1,E+04
1,E+05
1,E+06
1,E+00 1,E+01 1,E+02 1,E+03 1,E+04 1,E+05 1,E+06Ref. data ( μ g/g)
TXR
F da
ta ( μ
g/g)
JB 1 – Basalto
Ref. Found
% %Fe2O3 8,97 8,97MnO 0,16 0,14CaO 9,29 9,16K2O 1,43 1,45TiO2 1,34 1,22
μg/g μg/g LoDCr 469 487 50Ni 139 142 5Cu 56,3 60 3Zn 83 81 3Ga 18,1 16 3As 2,48 2 2Rb 41,2 42 2Sr 435 435 2Y 24 29 2Hf 3,4 <5 <5Pb 7,1 9 5Th 9,2 6 4
L inear Regression for JB 1Y = A + B * XN = 16 R = 0 .99992
Param Value sdA -57 108B 0,9927 0,0033
NIM L - LUJAVRITE
Ref. Found
% %Fe2O3 9,96 9,96MnO 0,77 0,74CaO 3,22 3,1K2O 5,51 5,5TiO2 0,48 0,45
μg/g μg/g LoDCr 10 <30 30Ni 11 <15 15Cu 13 20 6Zn 400 421 6Ga 54 47 5As - 26 3Rb 190 192 5Sr 4600 4521 4Y 22 20 2Hf 190 214 14Pb 43 40 6Th 66 56 6- = no value available
1,E+00
1,E+01
1,E+02
1,E+03
1,E+04
1,E+05
1,E+06
1,E+00 1,E+01 1,E+02 1,E+03 1,E+04 1,E+05 1,E+06
Ref. data (μg/g)
TXR
F da
ta (
g/g)
L in ea r R eg ress ion fo r N IM LY = A + B * XN = 1 4 R = 0 .9 9 9 9 4
P a ra m V a lu e sdA -1 1 3 1 0 4B 0 ,9 9 8 0 ,0 0 3
Standard Test MethodsASTM: D 4927 Ba, Ca, P, S e Zn in Lubrificant and Additive ComponentASTM: D 5059 Pb in GasolineASTM: D 6443 Ca, Cl, Cu, Mg, P, S e Zn in Unused Lubrificating Oil and Additives ASTM: D 6481 P, S, Ca, Zn in lubrificant oilASTM: D 6842 P, S, Ca, Zn in unused lubrificant oil and additiveISO 14597 V, Ni in petroleum products
VantaggiRapidità esecutiva
Rilevamento di tutte le fasi metalliche presenti.
LimitiDifficoltà di calibrazione (effetto matrice)
LoD dell’ordine di ppm
Metodi standard per analisi metalliin prodotti petrolchimici mediante
Fluorescenza a Raggi X
Metodi standard per analisi metalli in prodotti petrolchimici mediante
Spettrometria AtomicaPreparazione: Incenerimento solforico (550°C)
VantaggiTotale mineralizzazione del campione (fasi metallorganiche e inorganiche)
Analisi di una soluzione acquosa con ridotto fattore di diluizione del campione: ottimi LoD
LimitiTrattamento campione lungo (giorni) con rischio di contaminazioni
Non applicabile a metalli “volatili” (Hg, Se, As..)
Standard Test Methods Tecnica AnaliticaASTM: D5863 (Test Method A) ..Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels..AASISO 8691 Low levels of V (0.4-4 mg/kg) in liquid fuels AASASTM: D 5708 (Test Method B) ..Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels.. ICP OESASTM: D 3340 Li e Na Lubrificating Greases AASASTM: D 5184 Al e Si in fuel oils ICP OES and AASISO 10478 Al e Si in fuel oils ICP OES and AAS
Preparazione: Diluizione in solvente
Metodi standard per analisi metalliin prodotti petrolchimici mediante
Spettrometria Atomica (cont.)
VantaggiRapidità esecutiva
LimitiLoD: maggiore rispetto incenerimento solforico
Non permette di analizzare le fasi insolubili (es particolato, ossidi)
Standard Test Methods Tecnica AnaliticaASTM: D 3237 Pb nelle benzine AASASTM: D 3605 Na,Pb, Ca e V in Gas Turbine Fuell AAS ASTM: D 3831 Mn (MMT) in gasoline AASASTM: D 4268 Ba, Ca, Mg e Zn in Unused Lubrificant Oil AASASTM: D 4951 Ba, B, Ca, Cu, Mg, P, S e Zn in Lubrificant Oil ICP OESASTM: D 5185 22 elementi in Used Lubrificant Oils ICP OESASTM: D 5708 (Test Meth A) Ni, V, Fe in Crude Oils and Residual Fuels ICP OESASTM: D 5863 (Test Meth B) Ni, V, Fe and Na in Crude Oils and Residual Fuels AASUNI EN 13131 Ni and V in Petroleum products AAS
Prodotti di corrosione: confronto ICP OES vs TXRF
I LoD, per ogni elemento, variano in funzione della matrice
TXRF/ICP corr.values n A Std.Dev. (A) B Std.Dev. (B) R2
VL B 8 -6 21 0,975 0,009 0,9995VL D 8 51 63 0,9884 0,0004 1,00FC 352 8 238 624 1,019 0,004 0,9995
Campo Applicazione:
Elementi: K÷Zn
Concentrazione: da 50 ppm a 40%
y=A+Bxy=valori TXRFx=valori ICP
Spettro bianco del Wpreparazione campione on-site
μL
μL
μL
μL
μL
0
0.03
0.06
0.09
0.12
0.15
0.18
25 30 35 40 45 50 55
Atom. Num (Z)
LoD
(ppm
) 8
16
32
48
64
Campione+ 0.4 ppm Std metalli in olio (S12+Se: Conostan® + Ga)
Vantaggi
Permette di eccitare le linee K di particolari elementi (Z<52 es.: Zr, Mo, Rh, Pd,Ag,Cd, Sn, Sb) invisibili alla Kαdel Mo e la Lα del W
Migliorare la sensibilità per tali elementi fino a 2 ordini di grandezza
n-Olefina C10-13
Conc. (ppm) ICP TXRF
Ca 0.36 0.45Cd <0.004 <0.015Co <0.002 <0.005Cr 0.003 <0.005Cu 0.006 0.006Fe 0.08 0.07Mn <0.001 <0.003Mo <0.008 <0.007Ni 0.015 0.017Pb <0.04 <0.002Rh <0.03 <0.008Sn 0.02 <0.019Sr <0.0003 <0.002V <0.002 <0.008Zn 0.07 0.06
70 ppb
Ctz.: Pt, Ni
17 ppb
Source Mo-KαLive time 800sCurr.Intensity 40mA
LINPAR 10-13: Paraffina Lineare C10-13
Conc. (ppm) ICP TXRF
Ca 0.18 0.13Cd 0.009 <0.015Co 0.003 <0.005Cr 0.013 0.006Cu 0.008 0.008Fe 0.07 0.05Mn 0.003 0.00Mo <0.008 <0.007Ni 0.009 0.003Pb <0.04 <0.002Rh <0.03 <0.008Sn <0.008 <0.019Sr <0.001 <0.002V <0.002 <0.008Zn 0.04 0.00
8 ppb
50 ppb
Source Mo-KαLive time 800sCurr.Intensity 40mA