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mercredi 7 février 2001 GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs Philippe Mabilleau ing. Capteurs

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  • mercredi 7 février 2001

    GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Capteurs

  • 2GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Types de capteurs

    • Capteurs de position

    • Capteurs de force

    • Capteurs de température

  • 3GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Capteurs de position

    • Ces capteurs traduisent la position d'unobjet– sur un axe de rotation

    – sur un axe linéaire

    • Position angulaire

    • Position linéaire

  • 4GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs de position absolue

    • Position donnée par rapport à uneréférence fixe

    • Angle avec une direction fixe

    • Distance avec un point fixe sur un axe

    • Position absolue dans l ’espace– 2D déplacement dans un plan

    – 3D repérage dans l ’espace

  • 5GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs de position relative

    • Mesure du déplacement par rapport auxpositions antérieures

    • Référence absolue non disponible

    • Grandeur mesurée– vitesse

    – accélération

    – déplacement par comptage

  • 6GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Technologie des capteurs

    • Capteurs analogiques– position absolue

    • Capteurs numériques– position absolue et relative

    – déplacements

  • 7GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs analogiques

    • La position est mesurée à l'aide d'unegrandeur analogique– potentiométriques (résistance)

    – capacitifs et inductifs

    – de niveau (liquide)

  • 8GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs numériques

    • Position ou déplacement

    • Directement encodé sous formenumérique

    • Capteurs mécaniques

    • Capteurs optiques

  • 9GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs potentiométriques

    • Bonne précision si démultipliés

    • Valeur analogique généralementconvertie en tension

    • Coût élevé

    • Résistance au déplacement nonnégligeable

    • Bruit de contact potentiel entre lecurseur et la piste

  • 10GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs potentiométriques• Linéaire ou angulaire

    • Simple ou multitours

    • Position absolue

    • Valeur angulaire limitée en amplitude

    • Utilisation de potentiomètres avec deuxpistes sans fin de course

    • Conversion linéaire de la résistance entension pour être présentée à unconvertisseur analogique à numérique

  • 11GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    R1

    R2

    angle

    angle

    R1 R2

    Potentiomètres sans fin

  • 12GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    0 - 1 0 V

    - 1 0 V

    0 - 1 K

    -

    +

    1 K

    R

    -15V

    V = −R

    1kΩ−10v( )

    Conversion de la résistance

  • 13GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    C = Kε 0A

    d

    Capteurs capacitifs• Exploitation de la variation de capacité

    d'un condensateur

    • Pour un condensateur plan

    avec ε0 = 8.85 pF/m– Variation de la distance d

    – Variation de l'aire A

    – Variation de la constante diélectrique K

  • 14GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Sor t i e

    Sourc e a c

    L1

    L2L3

    Capteurs inductifs• Variation de l'inductance ou de

    l'inductance mutuelle

    • LVDT• linear variable differential transformer

    • L'amplitude de la tensiondifférentielle de sortievarie linéairement avec laposition du noyau

    • La phase de cette même tensionchange au passage au centre

  • 15GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    S our c e ac

    LVDT

    Sor t i e dc

    R

    R

    C

    D

    D

    Utilisation d'un LVDT

  • 16GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    LVDTDétecteur phase

    Oscillateur

    Filtre et red.

    Utilisation d'un LVDT

  • 17GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Caractéristiques des LVDT

    • Course linéaire de ±1 mm à ±25 cm

    • Linéarité typique de ±0.25%

    • Transfert statique en mV/mm

    • Caractéristiques dynamiques fonctionsde l'électronique d'interface

  • 18GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Mesures de niveaux• Mécaniques

    – utilisation de flotteurs avec les liquides

    • Électriques– utilisation des caractéristiques électriques

    du fluide• conduction

    • capacité à constante diélectrique variable

    • À ultra-sons– non invasifs

    • À mesure de pression

  • 19GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs numériques

    • À encodage directe– code Gray

    • Par comptage– déplacements relatifs

    – codage incrémental

    – détection du sens de déplacement

  • 20GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    • Le code Gray est un code à distanceminimale qui permet d'éviter les étatsintermédiaires erronés

    • Un seul bit change d ’une position àl'autre

    • Il peut être utilisé avec des capteursoptiques ou à balais mécaniques, pourdes positions angulaires ou linéaires

    Code Gray

  • 21GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Code Gray 4 bits

  • 22GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs mécaniques à balais

    • Lecture numérique simple

    • Usure élevée, sensible àl'environnement

    • Utilisation d'interrupteurs magnétiqueset d'un compteur– « compte-tours »

    • Dispositifs de pointage

  • 23GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Capteurs optiques

    • Résistance au mouvement faible

    • Lecture numérique simple

    • Par encodage direct– encodeurs angulaires optiques

    – angles mesurés en absolu

    • Par comptage– dispositifs de pointage (souris)

  • 24GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    • Détection du mouvement relatif et de sadirection

    • Linéaire ou angulaire

    • Règle imprimée

    • Roue dentée

    • Surface striéen+1/2

    demi-périodes

    Capteur 1 Capteur 2

    Codeur incrémental

  • 25GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    X

    Y

    P

    X-

    S

    Sens du déplacement

  • 26GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    D

    C

    Q D

    C

    Q

    D

    C

    Q D

    C

    Q

    D

    C

    Q

    Y

    X

    CLK

    S

    P

    X-

    Détecteur

  • 27GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    X

    Y

    S

    P

    D

    C

    Q

    X

    Y = P

    S

    Détecteur simplifié

  • 28GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Mesures de forces

    • La mesure des forces ou contraintes esttrès utilisée car elle permet la mesureindirecte des pressions, débits,accélération et poids

    • La mesure des contraintes utilise larelation qui existe entre contrainte etdéformation

  • 29GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    • Étirement

    • Compression

    • La contrainte estexprimée en N/m2

    • La déformation estexprimée en m/mou en µm/m A

    FContrainte =

    FF

    F F

    A

    A

    l

    l

    ∆ l

    ∆ l

    Déformation =∆ll

    Différents types de contraintes

  • 30GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    F

    F

    A

    l

    ∆∆ x

    Déformation =∆xl

    Torsion =F

    A

    Torsion

  • 31GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Contrainte

    Déformation

    Saturation

    Rupture

    llAF

    E∆

    ==nDéformatio

    Contrainte

    Zone de déformationélastique

    Contrainte et déformation

    E module d'élasticité d'Youngen N/m2

  • 32GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    • Une jauge de contrainte est un dispositifconducteur dont la résistance va variersuite à sa déformation sous unecontrainte

    • Sous l'effet de la contrainte la longueurde la jauge va augmenter et sa sectionva diminuer; ce qui va modifier sarésistance

    R0 = ρl0A0

    Jauge de contrainte

  • 33GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Variation de la résistance

    • Exemple:– R0 = 120 Ω– contrainte de 1000 µm/m

    – ∆R = 0.24 Ω

    l 0 A 0 = l 0 + ∆ l( ) A0 − ∆A( )

    R = ρl 0 + ∆lA0 − ∆A

    R = ρl0

    A01 + 2

    ∆ll0

  • 34GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Direction sensible

    Directionnon-sensible

    Substrat isolant

    ConducteurPad d'interconnexion

    Construction

  • 35GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    • La relation entre la contrainte et lavariation de résistance d'une jaugepermet de définir son coefficient

    • Pour les jauges métalliques usuelles GFest voisin de 2; il peut aller jusqu'à 10pour certains alliages ou le carbone

    GF =∆R R∆l l

    Jauges métalliques

  • 36GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Résistance d ’une jauge

    • La valeur nominale de la résistanced'une jauge (en l'absence de contrainte)peut être de 60, 120, 240, 350, 500 ou1000 Ω; la valeur la plus commune est120 Ω

  • 37GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    • Un pont est utilisé pour mesurer lavariation de résistance

    • Une jauge inactive est utilisée dans laseconde branche du pont pourcompenser les effets des variations detempérature

    F FRA

    RD+

    Vs D

    Det

    Utilisation d'une jauge

  • 38GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    RA = R 1 +∆RR

    ∆V = VSRD

    RD + R1−

    RA

    RA + R2

    ∆V = −VS

    4

    ∆RR

    1 +∆RR

    ≈ −VS

    4

    ∆RR

    = −VS

    4GF

    ∆ll

    Variations au détecteur

  • 39GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Jauges à semi-conducteur• Construites à partir de semi-

    conducteurs (généralement le silicium)

    • Coefficients beaucoup plus élevés queles jauges métalliques

    • du à l'effet de la contrainte sur la mobilité desporteurs dans les semi-conducteurs

    • Coefficients de l ’ordre de -50 à -200

    • Variation de la résistance non linéaire• généralement le coefficient décroît avec la

    contrainte (donc augmente en valeur absolue)

  • 40GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Accéléromètres• Mesure de la position d ’une masse

    suspendue à un ressort– réponse dynamique

    • résonance

    • Capteur de position– potentiométriques

    – LVDT

    – Piézo-électrique

    • Mesure de vibrations

  • 41GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Manomètres

    • Différents types– à diaphragme et LVDT (type Bourdon)

    – à semi-conducteur (jauges de contrainte)

    – jauge Pirani (dissipation thermique d ’unfilament, faible pression)

    – Jauge à ionisation (faibles pressions)

    • Débitmètres– manomètre différentiel

  • 42GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Mesure de températures• Basée sur l'effet de la température sur

    des grandeurs physiques ou électriques– résistance

    – effet thermo-électrique

    – propriété des semi-conducteurs• résistivité

    • tension Zener

    – expansion• d ’un liquide

    • d ’un solide

  • 43GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    • Résistivité des métaux croissante avecla température

    • Résistance métallique croissante avecla température

    • Variation non linéaire• approximation par une variation linéaire sur

    une plage limitée

    • par une variation quadratique sur une plageplus large R(T ) = R(T0 )(1 + α1∆T + α2 (∆T )

    2 )

    R(T ) = R(T0 )(1 + α0 ∆T )

    Résistance métallique

  • 44GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Exemples de variations

  • 45GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Ligne s de c om pe ns a t ion+

    Vs

    -

    +

    Détecteur à résistance (RTD)

    Utilisation d ’un pontavec lignes decompensation

  • 46GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Thermistor

    • Résistance à semi-conducteur

    • Diminue avec la température d ’unefaçon non linéaire

    • Très sensibles à la température;– typiquement 10% de la résistance

    nominale par °C

    • Plages de températures d ’utilisation– -50 °C à -100 °C jusqu'à 300 °C

  • 47GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Résistance d ’un thermistor

  • 48GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    • Dissipation de puissance par le couranttraversant la résistance de mesure– élévation de température

    • Réduction l ’incidence du phénomènesur la mesure– limitation du courant dans la résistance

    – prise en compte de l'erreur de lecture dueau réchauffement

    Facteur de dissipation

  • 49GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Prise en compte

    • Facteur de dissipation

    • Spécifications des RTD et desthermistors– facteur de dissipation, PD (en W/ºC) , qui

    est la puissance requise pour augmenter latempérature du composant de 1 ºC

    • P = puissance dissipée dans la résistance pourla mesure

    • ∆T = élévation de la température résultante∆T =

    P

    PD

  • 50GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Effet thermo-électrique

    • Force électromotrice résultant de ladifférence de température entre 2jonctions métallique dans un circuit

    • Très faible (quelques mV)

    • Non linéaire• mais une approximation linéaire peut être

    utilisée sur de vastes plages de température

    • Fonction des températures desjonctions de référence

  • 51GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Thermocouple

    T1 T2

    métal A

    métal B

    Force électromotrice TM

    TR

    TR

    métal A

    métal B métal C

    métal C

  • 52GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Utilisation d ’un thermocouple

    • Plage des températures qui peuventêtre mesurées très vaste– plage de 500 à 1500 °C

    – depuis -200 °C jusqu'à 1482 °C

    • Dépend de la nature des jonctionsmétalliques– jonctions métalliques standards

  • 53GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Types standards de jonctions

    Type Matériaux Plage detempératures

    J Fer-constantan -190 à 760 oC

    T Cuivre-constantan -200 à 371 oC

    K Chromel-alumel -190 à 1260 oC

    E Chromel-constantan -100 à 1260 oC

    S 90% platine +10% rhodium-platine

    0 à 1482 oC

    R 87% platine +13% rhodium-platine

    0 à 1482 oC

  • 54GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Exemples de variations

  • 55GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Autres capteurs• Bilames métalliques

    • détection d'un seuil de température

    • Thermomètres à gaz ou à pression devapeur saturante

    • mesure de pression

    • Capteurs intégrés à semi-conducteur• variation d'un tension Zener en fonction de la

    température

    • plage de mesure de -50 ºC à 150 ºC

    • utilisés comme point de référence pourthermocouple

  • 56GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Exemple d ’application

    • Plage de température à mesurer de 500 à600 °F avec une résolution de ±1 °F

    • La plage de températures est de260 à 315.6 °C

    • Un thermocouple de type J (fer-constantan) estutilisé avec une jonction de référence à 25 °C±0.5 °C

    • Les tables donnent pour un thermocouplede type J

    – à 260 °C, VT25 = 12.84 mV

    – à 315.6 °C, VT25 = 15.90 mV

  • 57GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Conditionnement du signal• La tension VADC présentée au convertisseur

    varie de 0 à 5 V

    • La tension de sortie du thermocouple estconsidérée linéaire sur la plage utilisée

    • Le circuit de conditionnement doit réaliser laconversion suivante:VADC = m VT25 + V0

    • Les paramètres m et V0 peuvent êtredéterminés à l'aide des équations suivantes:0 = m (0.01284) + V05 = m (0.01590) + V0

    • Ce qui fait: m = 1634 et V0 = -21 V

  • 58GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Calcul du circuit

    • Un gain de 1634 risque d'être sourced'instabilités si réalisé avec un seul étage

    • Un amplificateur différentiel avec un gain de-100 va être utilisé comme premier étage suivid'un sommateur

    V1 = -100 VT25

    VADC = 16.34 V1 - 21

    VADC = 16.34 (V1 - 1.29)

  • 59GEI 437 Laboratoire d ’interfaces et microprocesseurs

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    Vadc

    -

    +

    -

    +

    10K

    100K1K

    1K

    163.4K

    2.88K1K

    +5V

    TREF

    T

    Fer

    Constantan

    Circuit de conditionnement